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万分之一内校分析天平GL-C型
万分之一内校分析天平GL-C型图片
产地:上海
天平类型:精密电子天平
校准方式:内部校准


产品介绍

万分之一内校分析天平GL-C系列  仪器特点:
1、超大带背光液晶显示屏,使操作者视觉更柔和、清晰。
2、人性化设计、结构新颖、五面全透明玻璃防风罩。
3、采用新一代电磁平衡式称量传感器,保证了产品的高精度。
4、具有全自动故障检测,线性四点校准,超载保护等应用程序。
5、采用的超大数字集成型线路板,是产品精度的保障。
全自动内校电子分析天平GL1004C 仪器参数:
称量范围:0-100g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准
全自动内校电子分析天平GL1204C仪器参数:
称量范围:0-120g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准
全自动内校电子分析天平GL2004C仪器参数:
称量范围:0-200g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准
全自动内校电子分析天平GL2204C仪器参数:
称量范围:0-220g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准

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