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XQ60-Z1光学测角比较仪
XQ60-Z1光学测角比较仪图片
品牌:天光
产地:天津
产地类别:国产仪器设备


产品名称
XQ60-ZII光学测角比较仪
产品介绍

光学测角比较仪是用比较的方法测定角度的良好仪器,它与标准件或角度块规比较可测量金属与光学零件的角度;测量导轨的直线性;测量零件部件的平行度;测量两个平面的垂直度。此外,还可以与多面体或角度块组合使用进行分度测量等工作。

光学测角比较仪

适用范围:

一线车间加工过程中的监控与检验

● 工厂计量室的标准与质量评判

● 科研院所的产品研发与教学演示

应用范围:

●光学平板、棱镜的自准测量

●参照标准角规的比较测量

●导轨及平面的直线度、垂直度校准测量

特点:

该系列仪器操作简便直观,测量稳定可靠,借助辅助

设备用途更广泛

技术参数:

型号视值分度范围目视放大率视值不确定度工作距离外形尺寸(L .xHxW)
XQ60-Z11’V60 ',H40'10*/15*士6”0~1.4m200 x 250x 400
XQ60-ZII15’V50 ',H38’10*/15*士3”0~1.4m200x250x400
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天津天光新光学仪器科技有限公司
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联系人: 销售部
地址: 天津市西青区华苑产业园区海泰发展二道二号
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