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JB2010-H干法粒度分析仪
JB2010-H干法粒度分析仪图片
型号:JB2010-H
产地:上海


产品介绍

品牌:久滨
型号:JB2010-H
名称:干法激光粒度仪
一、产品概述:
JB2010-H属于干法全自动激光粒度仪,被广泛应用到粉体行业,我公司针对不同行业设计了不同模板,客户可根据自己需要选择水泥模版、磨料模版等等。
二、主要性能特点:
★先进的光路设计:JB2010-H采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在短的焦距获得大量程,有效提高仪器的分辨能力;小探头排布,让2010拥有了超强的小颗粒测试能力。yōu越的自动对中系统及电脑操作系统彰显出JB2010-H人性化设计。
★高稳定光路优化:dú具匠心的设计让JB2010-H拥有了先进的高稳定光路,它采用了高稳定、大功率光纤输出激光器,优良的配置使JB2010-H拥有了超强的稳定性;主要光路采取了全封闭设计,保证了仪器在复杂环境长时间测试。
★96路同时采集主板:JB2010-H率先使用了96路同时采集主板,所有通道同时采集信号,数据更真实更可靠,其他厂家宣称每秒多少次采集是所有通道每个通道单一采集,数据不真实。
★制药行业专用喂料系统:JB2010-H 专门针对药厂研制了一款专用喂料系统,很多药材密度小重量轻传统的震动喂料很难均匀的下料,新研发的喂料系统由被动喂料改为仪器主动吃料。进料均匀的同时也能保证很轻的样品进行正常测试。
★独特的干法分散系统:JB2010-H分散系统在法国理论数据的基础上进行了优化设计,使JB2010-H对干粉的分散更加均匀,超强的负压保证了进料的连续性及均匀性,有效避免测试过程中干粉的相互粘连。
★探测器:JB2010-H探测器采用了主探测器与副探测器结合的全新设计,保证了仪器全量程内无缝探测,使测试更加准确。主探测器设计了自动对中系统,可实现仪器的一键自动对中,彰显人性化设计。同时有效避免手动对中对探测器的损害,有效延长了仪器的使用寿命。
★防尘、防震设计:仪器整体进行了密封设计,大幅提高了内部元器件使用寿命。悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰,使结果测试更稳定可靠。
★光路自动校对:采用机械中心与光学中心相结合技术,光路自动调整定位更精确,达到微米级别;同时光路调整速度个更快捷15秒即可完成调整。自行研制的自动对中系统包括步进电机、精密导轨、精密控制器以及软件系统组成,步距0.2微米,保证激光束焦点始终从探测器中心点穿过,提高测试结果的准确性以及测试的重复性。自动对中系统是久滨仪器所有型号激光粒度仪的标准配置。
★管道无残留:测试完成后管道内无残留样品,不会对下次测试造成干扰。
计算机控制喂料:测试人员可借助计算机精准控制仪器进料量。
软件:符合药典GMP规定,具有电子签名、权限设置、数据追踪、数据不可更改等功能。
三、主要技术参数:

规格型号JB2010-H
执行标准ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008
测试范围0.1μm -2000μm
探测器通道数108
准确性误差<1%(国家标准样品D50值)
重复性误差<1%(国家标准样品D50值)
喂料方式高精度调节振动喂料,保证测试过程下料均匀
误操作保护仪器具备误操作自我保护功能,仪器对误操作不响应
激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW
分散方法高压空气紊流分散

功能

分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等,满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求
统计方式体积分布和数量分布,以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式
统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析,可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异,对工业原料质量控制具有很强的实际意义
自行DIY模板用户自定义要显示的数据,根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比,以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等
测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片(Bmp)和文本(Text)等多种形式的文档,满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果
多语言支持中英文语言界面支持,还可根据用户要求嵌入其他语言界面。
智能操作模式真正全自动无人干预操作,无人为因素干扰,您只需按提示加入待测样品即可,测试结果的重复性更好。
操作模式电脑操作

测试速度

<1min>
尺寸980mm*410mm*450mm
重量35Kg

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